Fecha/hora: 20/05/2024 04:20:25

Biblioteca(s): 	INIA La Estanzuela.	
Fecha corriente: 	16/02/2022	
Fecha de la última actualización: 	16/02/2022	
Autoria: 	GASO, D.; BERGER, A.; LAMMERT, K.; ALLARD, W.	
Afiliación: 	DEBORAH VIVIANA GASO MELGAR, INIA (Instituto Nacional de Investigación Agropecuaria), Uruguay./ Laboratory of Geo-Information Science, Wageningen University, Wageningen.; ANDRES GUSTAVO BERGER RICCA, INIA (Instituto Nacional de Investigación Agropecuaria), Uruguay; KOOISTRA LAMMERT, Laboratory of Geo-Information Science, Wageningen University, Wageningen, Wageningen, the Netherlands.; WIT ALLARD, Wageningen Environmental Research, Wageningen University, Wageningen, Wageningen, the Netherlands.	
Título: 	Assimilating leaf area index into a simple crop model to predict soybean yield and maximum root depth at field scale.	
Año de publicación: 	2020	
Fuente/Imprenta: 	In: ICROPM2020: Second International Crop Modelling Symposium , Feb 2020, Montpellier, France. ffhal-02950258f.	
Idioma: 	Inglés	
Palabras-Clave: 	SOYBEAN; Yield forecasting.	
Thesagro: 	RENDIMIENTO DE CULTIVOS; SOJA.	
Categoría del tema: 	F01 Cultivo	
URL: 	http://www.ainfo.inia.uy/digital/bitstream/item/16270/1/Gaso-S1-Poster.pdf	
Registro original: 	INIA La Estanzuela (LE)	
Ejemplares: 	LE - (103483-1) - PXI - PC - DD - ICROPM2020/Gaso -  -  - DIS